SemIsrael - The Israeli Semiconductors Portal

כמו שסיפרנו בפוסטים קודמים, אנו נוהגים לתאר את משימת מציאת פגמים על פרוסת סילקון כשקולה לחיפוש נמלה במנהטן כאשר אנו מצלמים את מנהטן מהאוויר (אולי רצוי לדייק שזוהי נמלה מתה כלומר אן צורך לעקוב אחר תנועתה).

בפוסט זה אנסה להסביר את ההשלכות שיש לכך על מערכות המיחשוב של המכונות שאנו מפתחים ומהם האתגרים הטכנולוגים הנובעים מכך מנקודת מבטם של מהנדסי התוכנה והחומרה באפלייד מטיריאלס ישראל.

ראשית בואו ונבחן נבחן את הגדלים, קצבי המידע וסיבוכיות מערכות המחשוב שלנו הנגזרות מכך.

לקריאת הפוסט המלא

הקטנת מימדי הטרנזיסטורים במעגלים משולבים, שולב באופן היסטורי עם פיתוח שיפורים תהליכיים מורכבים שמטרתם היתה הורדת מקורות הזליגה (זליגה = זרם לא רצוי שאינו נשלט על-ידי שער הטרנזיסטור).  זירמי זליגה גבוהים הם בעייתים ולא רצויים, כיוון שבמוצרים בהם נדרשת מהירות עבודה גבוהה, הם יגרמו לחימום יתר ויגרמו לבעיה בפיזור החום, ובמוצרים הניידים (לפטופים, טבלטים, טלפונים סלולריים וכדומה), זרמי הזליגה יגרמו לבזבוז הספק ולכן לקיצור זמן עבודת הסוללה (ומי מאיתנו לא מקטר על סוללה שנגמרת מהר מדי).

לקריאת הפוסט המלא

בפוסט קודם הבטחנו שנספר לכם איך עובדת מכונת SEM. ראשי התיבות מייצגים את הביטוי מיקרוסקופ אלקטרונים סורק (Scanning Electron Micorscope) או במילים אחרות מיקרוסקופ המשתמש בקרן אלקטרונים סורקת על מנת לייצר תמונה. תמונה מאלקטרונים? הרי אלקטרונים אלו החלקיקים הקטנים בעלי המטען השלילי שזורמים לנו בחוטי החשמל. מה הקשר בינם לבין תמונה?

המוטיבציה העיקרית לשימוש במיקרוסקופ אלקטרוני היא כושר האבחנה (הרזולציה). מכיוון שאורך הגל של אלקטרון קטן בהרבה מאורך הגל של האור (חלקי ננומטר לעומת 500 ננומטר של אור נראה), גבול הרזולוציה של מיקרוסקופ אלקטרוני הוא ננומטרים בודדים לעומת מאות ננומטרים של מיקרוסקופ אופטי. על נושא הרזולוציה נרחיב בפעם אחרת.