SEMVision™ G6 - 6th Generation in Israel!

Posted by 
in Blogs
18 July 2013

כבכל שנה, נערכה השבוע בסאן פרנסיסקו התערוכה הגדולה של תעשיית הסמיקונדקטורס – סמיקון מערב Semicon West.
בשנה שעברה השקנו במקביל לתערוכה את מכונת הסריקה לפגמים UVision 5 , והשנה אנחנו גאים להציג את מכונת הדמיית הפגמים (defect review) החדשה שלנו – SEMVision G6.
הביטוי G6 מייצג את העובדה שזהו הדור השישי של מכונות ה SEMVision.
זוהי אחת הפלטפורמות הותיקות של אפלייד ישראל. המכונה הראשונה מהמשפחה נשלחה ללקוחות ראשונים כבר בשנת 1998 ולמעשה היתה הראשונה בעולם להציע מעבר אוטומטי בין פגמים שנמצאו על ידי מכונת הסריקה (inspection) וצילומם על ידי מיקרוסקופ אלקטרונים סורק (SEM – Scanning Electron Microscope).

לקריאת הבלוג המלא

Last modified on Thursday, 18 July 2013 11:54